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X-MET⁸000 Geo是一款X射線熒光分析儀(XRF),用于在現(xiàn)場進行環(huán)境土壤和沉積物篩選。該儀器可快速執(zhí)行大量分析并完成測試程序，有助于大幅度降低對實驗室分析的需求以及相關(guān)的成本。

我們的革命性BOOSTTM技術(shù)可提供快速精確測量關(guān)鍵元素(例如，US EPA Method6200 RCRA和優(yōu)先元素)所需的低檢測限。

X-MET集成了GPS,可將地理位置數(shù)據(jù)與分析結(jié)果相結(jié)合，實現(xiàn)完美的現(xiàn)場地圖繪制。該儀器也與Trimble接收器配合，獲得更準確的位置數(shù)據(jù)。

為什么 X-MET8000 Geo 是您企業(yè)的理想之選

現(xiàn)場測量和篩選

在具有多個測量點的區(qū)域使用X - MET，有助于現(xiàn)場決策，不必為了等待實驗室結(jié)果而暫停工作。 

幾秒鐘內(nèi)顯示結(jié)果

采用我們的標準土壤校準可同時測量多達40種元素，幾秒鐘內(nèi)顯示結(jié)果，所需樣品制備量*小。 

*少培訓(xùn)

具備“一鍵即測”的簡單操作。開箱即可使用。

舒適

重量輕（1.5 kg）、出色的人體工學(xué)設(shè)計和長達10 - 12小時的電池壽命可確保工作流程不會出現(xiàn)中斷，且疲勞度降至*低。 

經(jīng)濟成本低

X-MET可承受*惡劣的環(huán)境和天氣條件，其具備 IP54防護等級（相當于NEMA3），有著超高的防塵和防水性能。該分析儀符合MIL-STD-810G強度標

準。

高級數(shù)據(jù)管理

多種報告格式可選，可直接下載到 U 盤，或通過 USB 數(shù)據(jù)線傳到 PC上，也可利用 WiFi 或藍牙實現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)共享。

您可以隨時使用我們的ExTOPE Connect移動應(yīng)用程序共享結(jié)果，我們的云服務(wù)使您能夠?qū)崟r安全地導(dǎo)出結(jié)果、照片和GPS坐標。甚至可以用單個賬戶管理一系列X- MET的結(jié)果。

X-MET8000 Smart
X射線管：40kV
濾光片：單一
檢測器：大面積 SDD
*高樣本溫度：400ºC
符合 IP54 等級
Thick Kapton®窗口：保護以預(yù)防探測器的窗戶損壞
校準：基本參數(shù)法(FP)
內(nèi)置攝像頭 （可選）


X-MET8000 Optimum
X射線管：40kV or 50kV
濾光片：6位濾光轉(zhuǎn)換器
檢測器：大面積 SDD
*高樣本溫度：100ºC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400ºC（可選)
符合 IP54 等級
可選窗口防護罩：預(yù)防檢測器的窗口損壞進行保護
校準：基本參數(shù)法 （包括輕元素分析）
內(nèi)置攝像頭（可選）
小光班準直器（可選）
針對所有元素（從鎂到鈾）進行優(yōu)先分析的六位濾光片


X-MET8000 Expert
X射線管：50kV
濾光片：6位濾光轉(zhuǎn)換器
檢測器：大面積 SDD
*高樣本溫度：100ºC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400ºC（可選)
符合 IP54 等級
可選窗口防護罩：預(yù)防檢測器的窗口損壞進行保護
校準方法：自動跳轉(zhuǎn)的經(jīng)驗系數(shù)法（可進行追溯）
內(nèi)置攝像頭
小光班準直器 （可選) 
針對所有元素，從鎂到鈾，的優(yōu)先分析的六位濾光片

 

可選附件

我們提供全系列附件以簡化測試工作。

輔助桿

對于難以到達的分析地點，改進測量人體工學(xué)設(shè)計的 X-MET 桿提供了簡單的解決方

案。需要在表面面積很大的區(qū)域進行測量時，X-MET 桿可提供幫助。

兩腳架

需要較長的分析時間時，即超過 30 秒，使用兩腳架可解放雙手。

臺式支架

從便攜式到臺式配置，數(shù)秒內(nèi)將 X-MET8000 變身成臺式儀器，滿足用戶大量樣品測定及操作安全，同時提高分析數(shù)據(jù)準確性及檢出限。

輻射防護

*小化散射輻射。輕型支架和安全護罩用于粉末的快速分析�？煞湃隭-MET機箱，完全便于攜帶。

便攜式藍牙打印機

將結(jié)果打印在紙張或不干膠標簽上，并貼在試樣上；方便且不會混淆。

皮套和皮帶

分析儀的免提現(xiàn)場攜帶裝置 。可快速更換的防護窗口我們可快速更換的防護窗口意味著無需使用任何工具便可更換已損壞或玷污的窗口，避免探測器損壞和高昂的維修成本。

日立產(chǎn)品系列包括

微焦斑XRF鍍層分析儀：FT230以及FT160、FT110A和X-Strata920可測量單層和多層鍍層（包括合金層）的鍍層厚度，適用于質(zhì)量控制或過程控制程序以及研究實驗室。

RoHS分析儀：日立的EA1400、EA1000AIII、EA6000VX和HM1000A分析儀專為“有害物質(zhì)限制”分析而設(shè)計，快速且易用，其靈活性能確保適應(yīng)不斷發(fā)展的法規(guī)規(guī)定。

​及時的樣品分析對于環(huán)境篩選操作而言至關(guān)重要，可以快速準確地收集修復(fù)和評估數(shù)據(jù)。