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美國GE測厚儀探頭CA211A
| 產品型號： |
CA211A |
| 品 牌： |
GE |
|
|
| 所 在 地： |
廣東深圳 |
| 更新日期： |
2025-02-11 |
| | 品牌：GE | | 型號：CA211A | | 加工定制：否 | |
| | 用途：壁厚測量 | | 是否進口：是 | | 產地：美國 | |
美國GE測厚儀探頭
主要特性
•單晶探頭用于超聲脈沖的發(fā)射和接收
•通過水延遲通道進行縱波或橫波的垂直或斜向掃描（非接觸測試）
•完全不漏水的版本設計，或者帶有固定的連接電纜，或者帶有水密封的連接插座（除Microdot外）
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線聚焦和點聚焦方式增加了缺陷識別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭，從而對非常小的非均勻性具有非常高的探測能力。
探頭分為兩大類：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測件有規(guī)則外形和相對光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串擾擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
斜探頭
·晶片安裝在內置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數標準探頭通過模式轉換產生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時用于機械化或自動化檢測
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測件
·通常用于機械化或者自動化檢測
·耦合一致性好，檢測重復性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進效果
用于壁厚測量的探頭，特別地與我們的數字測厚儀相匹配。
| |
測厚探頭特殊應用于壁厚測量，與我們的數字測厚儀匹配用。 |
| 測厚儀 |
量程（MM） |
訂購號嗎 |
接觸面 |
F(MHZ) |
備注 |
CL304 /
CL3DL |
0.13-5
0.18-25
1.6-250
1.6-380
1.6-25
0.125-…
|
Alpha 2A
Mini DFR
CLF4
CLF5
CA211A
CA215
Alpha DFR-P |
5
7.5
9.5
19
13
7.5
|
20
15
10
5
5
22
|
可更換的延遲線118-440-043
可更換的延遲線CLFV1
在塑料上測量，延遲線DFR-PV1
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| CL304 |
3-500 |
CA214 |
15 |
5 |
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在高于60℃溫度下測量時，有特殊的延遲線。
探頭分為兩大類：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測件有規(guī)則外形和相對光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串擾擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
斜探頭
·晶片安裝在內置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數標準探頭通過模式轉換產生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時用于機械化或自動化檢測
