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美國GE貝克休斯探傷儀高溫測頭SEB4KVW70B4GV
產品型號: |
W70B4GV |
品 牌: |
美國GE |
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所 在 地: |
廣東深圳 |
更新日期: |
2025-02-11 |
| 品牌:美國GE | | 型號:W70B4GV | | 加工定制:否 | |
| 用途:探傷儀測厚儀探頭 | | 是否進口:是 | | 產地:美國 | |
美國GE貝克休斯高溫測頭SEB4KV W70B4GV
通過與德國聯邦材料檢測研究所(BAM)合作,*新研制的斜探頭和雙晶探頭可連續工作至250℃。當接觸面溫度升高到250℃以上時,測量后的探頭必需降底溫度。斜探頭允許的*大接觸溫度大約是350℃,但是在如此高的溫度下延遲塊性能會受到一定的影響。此外,雙晶直探頭可以承受的*高接觸溫度大約為800℃。根據溫度的不同,選用的偶合劑也不同:Z G T 可以達到2 5 0℃,而Z G M可以達到550℃。在超過550℃的溫度下,可以用玻璃粉偶合。這些特殊設計的探頭同樣可以在-197℃的低溫下進行測量。
參數
斜探頭 |
附:探頭電纜線MPKL2-V,編號:65261在150℃,入射角根據溫度的變化而變化。大約是,在45℃下變化為0.260/10℃,在60℃和70℃下變化為0.50/10℃ |
W45B2GV
W60B2GV
W70B2GV
W45B4GV
W60B4GV
W70B4GV |
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雙晶直探頭 |
附:2 x探頭電纜線MPKL2-V,編號:65261 |
SE B4 KV |
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超聲探頭高性能硬質陶瓷接觸式直探頭 |
典型的波寬:75% |
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K1G
K2G
K4G
K2N
K4N
K5N
K6N |
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典型的波寬:100% |
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G1N
G2N
G4N
G2KB
G5KB |
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