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美國GE超聲波測厚儀探頭DA503
詳細信息| 詢價留言品牌：美國GE 型號：DA503 加工定制：否 用途：探傷儀測厚儀探頭 是否進口：是 產地：美國 美國GE超聲波測厚儀探頭DA503
探頭分為兩大類：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測件有規則外形和相對光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
直探頭--雙晶
·接受發射單元用串擾擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
斜探頭
·晶片安裝在內置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數標準探頭通過模式轉換產生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時用于機械化或自動化檢測
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規則表面的被檢測件
·通常用于機械化或者自動化檢測
·耦合一致性好，檢測重復性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進效果
應用
•結構規則簡單的大型工件檢測
•鍛件、坯料檢測
•板材、棒材、方型材
•容器、機器零部、外殼
•在高溫下用延遲塊檢測
功能特和優勢
•歐式型號具有可更換的軟保護膜：
– 改善在不平坦或彎曲表面上的耦合
– 延長探頭使用壽命。
– 適用于 DGS 缺陷定量方法
– 提供高溫延遲塊
– Lemo 1 (B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 連接器，標準探頭連接器安裝在側面，頂部接口可選
•美式型號具有可更換的軟保護膜：
– 保護膜可改善不平坦或彎曲表面上的耦合。
– 定期更換軟保護膜可無限期延長探頭的使用壽命。
– 高溫延遲塊可在*高 400°F (200°C) 的表面上進行檢測。
– BNC 連接器，側面或頂部安裝
DM5E Basic/DM5E/DM5EDL常用探頭技術數據名稱 標準探頭 超厚探頭 超薄小管徑探頭 高溫探頭 型號 DA501 DA503 DA512 DA590 界面回波測量范圍 1.0～200mm 5.0～300mm 0.6～60mm 20℃時1.0～125mm
204℃時1.3～25.4mm回波回波測量范圍 3.0～100mm 10～150mm 3.0～25mm 頻率 5MHz 2MHz 7.5MHz 5MHz 探頭接觸直徑 12mm 16.1mm 7.5mm 12.7mm 連續測量工作溫度 -10～70℃ -10～70℃ -20～70℃ -20～204℃*
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留 言
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