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TB7549-X超聲波試塊美國(guó)泛美
產(chǎn)品型號(hào): TB7549-X 品 牌: 美國(guó)泛美 價(jià)格電議,您可以向供應(yīng)商詢價(jià)得到該產(chǎn)品價(jià)格 所 在 地: 廣東深圳 更新日期: 2025-02-11 詳細(xì)信息品牌:美國(guó)泛美 型號(hào):TB7549-X 加工定制:否 類型:超聲波 測(cè)量范圍:10 分辨率:20*22 尺寸:19*15 mm 重量:1 kg 分辨率:20*22
超聲波試塊的作用
1、超聲波試塊的作用是校驗(yàn)儀器和探頭的性能,確定探傷起始靈敏度,校準(zhǔn)掃描線性。
2、超聲波探傷儀同步信號(hào)發(fā)生器的作用
3、同步電路產(chǎn)生同步脈沖信號(hào),用以觸發(fā)儀器各部分電路同時(shí)協(xié)調(diào)工作,它主要控制同步發(fā)射和同步掃描二部分電路。
上述的內(nèi)容就是超聲波探頭及試塊的主要用途,超聲波探傷是利用超聲能透入金屬材料的深處,并由一截面進(jìn)入另一截面時(shí),在界面邊緣發(fā)生反射的特點(diǎn)來檢查零件缺陷的一種方法。
校準(zhǔn)試塊具體型號(hào)規(guī)格:
所有試塊的尺寸都使用源于美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)及技術(shù)研究所(NIST)的測(cè)量?jī)x器進(jìn)行核查。*經(jīng)常求購的校準(zhǔn)試塊列于下表中。
類型 工件編號(hào) 說明 硬木箱 ASTM E164校準(zhǔn)
IIW型試塊TB7541-X 符合AASHTO和AWS的1型試塊的要求。校準(zhǔn)距離和靈敏度設(shè)置。
測(cè)量角度聲束探頭的折射角度和聲束出射點(diǎn)。美國(guó)常用單位(英寸)。F129 TB1136-X 符合AASHTO和AWS的1型試塊的要求。校準(zhǔn)距離和靈敏度設(shè)置。
測(cè)量角度聲束探頭的折射角度和聲束出射點(diǎn)。美國(guó)常用單位(英寸)。
帶有有機(jī)玻璃塞。F129 TB1054-X 公制單位。 F129 TB1137-X 公制單位。帶有有機(jī)玻璃塞。 F129 美國(guó)空軍IIW-2型校準(zhǔn)試塊 TB5939-X 美國(guó)空軍NDI手冊(cè)T.O.33B -1-1中規(guī)定的IIW型試塊。
這些試塊包含用于距離校準(zhǔn)的半徑為2英寸和4英寸的開口,
帶有3號(hào)、5號(hào)和8號(hào)橫通孔,以及2英寸處的距離校準(zhǔn)標(biāo)記。F129 RC AWS試塊 TB7543-X 根據(jù)AWS和AASHTO的要求,確定角度聲束探頭的分辨率能力。 F157 SC AWS試塊 TB7545-X 根據(jù)AWS和AASHTO的要求,進(jìn)行靈敏度和折射角度的校準(zhǔn)。 F158 DC AWS試塊 TB7547-X 根據(jù)AWS和AASHTO的要求,為角度聲束探頭進(jìn)行距離和聲束步進(jìn)的校準(zhǔn)。 F159 DSC AWS試塊 TB7549-X 根據(jù)AWS和AASHTO的要求,為角度聲束探頭進(jìn)行距離、靈敏度、
折射角度及聲束步進(jìn)的校準(zhǔn)。F160 DS AWS試塊 TB7551-X 根據(jù)AWS和AASHTO的要求,用于校準(zhǔn)橫向線性和dB精確度的試塊。 F161 30FBH分辨率
參考試塊TB7160-X 評(píng)價(jià)UT設(shè)備的近表面分辨率和缺陷尺寸/深度的靈敏度。
在0.050英寸到1.250英寸之間的10個(gè)金屬行程距離處
有3號(hào)、5號(hào)和8號(hào)ASTM平底孔。包含 NAVSHIPS試塊 TB7567-X 帶有6個(gè)3號(hào)橫通孔。用于根據(jù)NAVSHIPS 0900-006 -3010標(biāo)準(zhǔn)
進(jìn)行距離波幅校準(zhǔn)。F162 ASTM E164 MAB
試塊TB7150-X 袖珍角度聲束(ROMPAS)試塊。用于距離、聲束步進(jìn)、
折射角度及靈敏度的校準(zhǔn)。厚度為1英寸。F197 ISO 7963
鋼制TB1065-X 袖珍角度聲束試塊。用于距離、聲束步進(jìn)、折射角度和靈敏度的校準(zhǔn)。
厚度為25毫米。F197
1 = 1018鋼
2 = 4340鋼
4 = 7075-T6鋁
5 = 304不銹鋼
8 = 6-4鈦
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