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V260-SM探傷儀探頭美國泛美
詳細信息| 詢價留言品牌：美國泛美 型號：V260-SM 加工定制：否 類型：超聲波 測量范圍：5 分辨率：20*22 尺寸：12 mm 重量：0.05 kg 分辨率：20*22 V260-SM探傷儀探頭美國泛美 介紹
優(yōu)勢
• 強阻尼探頭加上延遲塊可以提供極佳的近場分辨率。
• 較高的探頭頻率提高了分辨率。
• 直接接觸法可提高測量薄材料及發(fā)現(xiàn)細小缺陷的能力。
• 具有外形吻合性能，適用于曲面工件。
應用
• 精確測厚。
• 垂直聲束缺陷探測。
• 對接觸區(qū)域有限的工件進行檢測。
sonopen可更換延遲塊探頭
• 聚焦的可更換延遲塊。
• 尖端直徑極小的特點可以提高在曲面及小缺口上的檢測性能。
• 手柄可以方便探頭頭部的定位。
頻率 標稱
晶片尺寸探頭
工件編號MHz 英寸 毫米 平直手柄 直角手柄 45°手柄 15 0.125 3 V260-SM V260-RM V260-45
* 高溫延遲塊可在溫度高達175°C（350°F）的情況下使用。Sonopen可更換延遲塊 尖端直徑 工件編號 英寸 毫米 0.080 2.0 DLP-3 0.060 1.5 DLP-302 0.080 2.0 DLP-301* -
留 言
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