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美國GE探傷儀斜探頭MWK45-4

美國GE探傷儀斜探頭 MWB..：用于小物體的測試。經常用于容器或鍋爐部分的焊接測試，特別是螺桿、螺釘和高應力機械零件的裂縫探測。
其它應用：腐蝕探測（如氣瓶內部）和管道上裝配焊縫的測試。

特性：小外形，小深度到中等深度時有窄的聲波場
注釋：
粗體=首選探頭，帶簡短注釋說明
= 提供探頭數據表
= 提供DGS標尺
關于表中數據的解釋，見第4頁中選擇標準。
關于聲束形狀見第37頁中聲束形狀編號。

類型 [訂購號碼]	a×b [mm] EB [mm]	f [MHz]	B 1) [Grad]	AB*	[mm]	N [mm]	聲束形狀 編號	備注	草圖
特性帶寬：40%
MUWB2N MUWB4N	8×9	2 4	0-90 0-90	與角度 有關	15 30	4 2	2-8×9	對縱波和橫波，也有20×30mm	類型
MWB35-2 MWB45-2 MWB60-2 MWB70-2 MWB80-2 MWB90-2	8×9	2 2 2 2 2 2	35 45 60 70 80 90	10-3300 5-3300 4-2900 4-2400 9-2200	15 15 15 15 15 16	4 4 4 4 4 4	2-8×9 2-8×9 2-8×9 2-8×9 2-8×9 -	提供連接器 頂端: MWB..-04 表面波	類型23
MWB35-4 MWB45-4 MWB60-4 MWB70-4 MWB80-4 MWB90-4	8×9	4 4 4 4 4 4	35 45 60 70 80 90	7-5000 3-4600 3-4600 3-4200 5-1700 -	30 30 30 30 30 32	2 2 2 2 2 2	4-8×9 4-8×9 4-8×9 4-8×9 4-8×9 -	提供連接器 頂端: MWB..-04 表面波	類型23
合成單元，特性帶寬：70%
MWK45-2 MWK60-2 MWK70-2 MWK45-4 MWK60-4 MWK70-4	8×9	2 2 2 4 4 4	45 60 70 45 60 70	4-3500 4-3100 4-2600 3-5000 3-5000 3-4700	15 15 15 30 30 40	3 3 3 2 2 2	2-8×9 2-8×9 2-8×9 4-8×9 4-8×9 4-8×9		類型23
SMWK45-5 SMWK60-5 SMWK70-5	3 × 4	5 5 5	45 60 70	4-1500 4-1500 4-1500	7 7 7	1.5 1.5 1.5	- - -		類型25

1) 速率3255
*） 用于無衰減材料時規定的工作范圍上限。實際上，如果頻率增加，則上限急劇降低。
我們還有大量的特殊探頭可以用于在熱表面上的測量（請見29頁）     

附件描述	類型	備注
探頭電纜（2米） 斜楔 備用件(1件=10片） WP(E) 耦合劑 DGS標尺	PKLL2 MPKl2 SWP ZG-F	用于MWB.., MWK.. 用于SMWK. 用于MWB.., MWK.. 用于MUWB.. 見36頁 見35頁

美國GE超聲波探頭 
主要特性： 
•單晶探頭用于超聲脈沖的發射和接收 
•通過水延遲通道進行縱波或橫波的垂直或斜向掃描（非接觸測試）
•完全不漏水的版本設計，或者帶有固定的連接電纜，或者帶有水密封的連接插座（除Microdot外） 
•牢固的金屬盒 
•用通常采用的線聚焦和點聚焦方式增加了缺陷識別的能力 
•使用具有較高頻率的聚合物探頭，從而對非常小的非均勻性具有非常高的探測能力。
 
探頭分為兩大類：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測件有規則外形和相對光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
直探頭--雙晶
·接受發射單元用串擾擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
斜探頭
·晶片安裝在內置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數標準探頭通過模式轉換產生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時用于機械化或自動化檢測
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規則表面的被檢測件
·通常用于機械化或者自動化檢測
·耦合一致性好，檢測重復性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進效果