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美國(guó)GE貝克休斯探頭IA5.8
詳細(xì)信息品牌：美國(guó)GE 型號(hào)：IA5.8 加工定制：否 用途：探傷儀測(cè)厚儀探頭 是否進(jìn)口：是 產(chǎn)地：美國(guó) 美國(guó)GE貝克休斯探頭IA5.8
主要特性
•單晶探頭用于超聲脈沖的發(fā)射和接收
•通過(guò)水延遲通道進(jìn)行縱波或橫波的垂直或斜向掃描（非接觸測(cè)試）
•完全不漏水的版本設(shè)計(jì)，或者帶有固定的連接電纜，或者帶有水密封的連接插座（除Microdot外）
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線聚焦和點(diǎn)聚焦方式增加了缺陷識(shí)別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭，從而對(duì)非常小的非均勻性具有非常高的探測(cè)能力。
探頭分為兩大類(lèi)：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場(chǎng)分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開(kāi)
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
斜探頭
·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過(guò)模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測(cè)，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊
·有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測(cè)件
·通常用于機(jī)械化或者自動(dòng)化檢測(cè)
·耦合一致性好，檢測(cè)重復(fù)性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進(jìn)效果
美國(guó)GE測(cè)厚探頭 此探頭具有*佳分辨力可以檢測(cè)試塊近表面或者近底面非常小的缺陷在1mm 深度處能夠檢測(cè)φ0.3mm的平底孔使用高分辨率超聲探傷儀（如：USIP 12,USIP 20或者KB 6000），可以得到高精度的回波幅值頻率誤差<10%可用于市場(chǎng)上的大多數(shù)液浸檢測(cè)系統(tǒng)。IA/AP液浸探傷首選探頭 根據(jù)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（如：NDT-111-A或者SIM-1K），此探頭具有*佳分辨力可以檢測(cè)試塊近表面或者近底面非常小的缺陷在1mm 深度處能夠檢測(cè)φ0.3mm的平底孔使用高分辨率超聲探傷儀（如：USIP 12,USIP 20或者KB 6000），可以得到高精度的回波幅值頻率誤差<10%可用于市場(chǎng)上的大多數(shù)液浸檢測(cè)系統(tǒng)。 IA 5.8
IAP 5.12.6
IAP 10.6.3
IAP 15.6.2測(cè)厚首選探頭 短脈沖沖擊波探頭· 高分辨力和靈敏度· 能夠測(cè)量的*小厚度為0.2mm（鋼）· 頻率誤差<10%· 可用點(diǎn)聚焦或者線聚焦 H 1N
H 2N
H 2K
H 5K
H 10K
H 5M
H 10M
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產(chǎn)品分類(lèi)
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工業(yè)無(wú)損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
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計(jì)量測(cè)試儀
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環(huán)境暖通測(cè)試
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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