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美國(guó)GE貝克休斯探傷探頭MWB70-2EN
詳細(xì)信息品牌：美國(guó)GE 型號(hào)：-2EN 加工定制：否 用途：探傷儀測(cè)厚儀探頭 是否進(jìn)口：是 產(chǎn)地：美國(guó) 美國(guó)GE貝克休斯探傷探頭MWB70-2EN
主要特性
•單晶探頭用于超聲脈沖的發(fā)射和接收
•通過(guò)水延遲通道進(jìn)行縱波或橫波的垂直或斜向掃描（非接觸測(cè)試）
•完全不漏水的版本設(shè)計(jì)，或者帶有固定的連接電纜，或者帶有水密封的連接插座（除Microdot外）
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線聚焦和點(diǎn)聚焦方式增加了缺陷識(shí)別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭，從而對(duì)非常小的非均勻性具有非常高的探測(cè)能力。
探頭分為兩大類：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場(chǎng)分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開(kāi)
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
斜探頭
·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過(guò)模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測(cè)，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測(cè)件
·通常用于機(jī)械化或者自動(dòng)化檢測(cè)
·耦合一致性好，檢測(cè)重復(fù)性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進(jìn)效果
美國(guó)GE標(biāo)準(zhǔn)探頭 超聲檢測(cè)結(jié)果的可靠性主要取決于檢測(cè)時(shí)所選用探頭的可靠性。
高質(zhì)量的探頭必需具備以下性能：
•探頭的檢測(cè)精度必須達(dá)到其標(biāo)稱精度
•同一型號(hào)的探頭必需具有很高的重復(fù)性和一致性
•每一個(gè)探頭都能滿足EN 12668-2標(biāo)準(zhǔn)的技術(shù)參數(shù)要求
•檢測(cè)數(shù)據(jù)可以永久保存，并可以隨時(shí)恢復(fù)保存的數(shù)據(jù)
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留 言
- 聯(lián)系人：牟淑蓉
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無(wú)損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺(jué)質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測(cè)厚儀探頭
- 硬度計(jì)探頭
- 涂層測(cè)厚儀
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電火花檢測(cè)儀
- 鈍化膜測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
- 相控陣探傷儀
- 地下管線探測(cè)
- 脈沖發(fā)生接收器
- 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
- 鐵素體含量測(cè)試儀
- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
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計(jì)量測(cè)試儀
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環(huán)境暖通測(cè)試
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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