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美國GE貝克休斯探傷儀高溫測頭SEB4KVW70B4GV
詳細(xì)信息| 詢價留言品牌：美國GE 型號：W70B4GV 加工定制：否 用途：探傷儀測厚儀探頭 是否進(jìn)口：是 產(chǎn)地：美國 美國GE貝克休斯高溫測頭SEB4KV W70B4GV
通過與德國聯(lián)邦材料檢測研究所（BAM）合作,*新研制的斜探頭和雙晶探頭可連續(xù)工作至250℃。當(dāng)接觸面溫度升高到250℃以上時，測量后的探頭必需降底溫度。斜探頭允許的*大接觸溫度大約是350℃，但是在如此高的溫度下延遲塊性能會受到一定的影響。此外，雙晶直探頭可以承受的*高接觸溫度大約為800℃。根據(jù)溫度的不同，選用的偶合劑也不同:Z G T 可以達(dá)到2 5 0℃，而Z G M可以達(dá)到550℃。在超過550℃的溫度下，可以用玻璃粉偶合。這些特殊設(shè)計的探頭同樣可以在-197℃的低溫下進(jìn)行測量。
參數(shù)斜探頭 附：探頭電纜線MPKL2-V，編號：65261在150℃，入射角根據(jù)溫度的變化而變化。大約是，在45℃下變化為0.260/10℃，在60℃和70℃下變化為0.50/10℃ W45B2GV
W60B2GV
W70B2GV
W45B4GV
W60B4GV
W70B4GV雙晶直探頭 附：2 x探頭電纜線MPKL2-V，編號：65261 SE B4 KV 超聲探頭高性能硬質(zhì)陶瓷接觸式直探頭 典型的波寬：75% K1G
K2G
K4G
K2N
K4N
K5N
K6N典型的波寬：100% G1N
G2N
G4N
G2KB
G5KB
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