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探傷儀探頭K1SM美國GE
詳細信息| 詢價留言品牌：美國GE 型號：K1SM 加工定制：否 是否進口：是 型號：K1SM 加工定制：否 K1SM探傷儀探頭美國GE
美國GE探傷儀探頭 K..S，K..SM，K..SC和MK..S（粗晶探頭）：用于測試這樣一類的中等尺寸和大尺寸物體，它們的材料會通過聲波的散射作用（例如灰口鑄鐵、非鐵重金屬材料或者塑料合成材料等制成的物體）而導(dǎo)致高的聲波衰減,它們也可以用于測試材料的物理特性（例如建筑材料、巖芯和半導(dǎo)體材料的特性）。
特性：在粗糙表面上具有穩(wěn)定的耦合性
注釋：
粗體=首選探頭，帶簡短 注釋說明
O= 提供探頭數(shù)據(jù)表
O= 提供DGS標尺
關(guān)于表中數(shù)據(jù)的解釋，見第4頁中選擇標準。
關(guān)于聲束形狀見第37頁中聲束形狀編號。
可按用戶需求提供其它衰減值（帶寬）、連接插座、頻率或單元尺寸的探頭。類型
[訂購號碼]D[mm] [mm] f [MHz] AB N [mm] EB [mm] 聲束形狀
編號備注 草圖 特性帶寬：25% B0.5SL
B1SL
B2SL34
34
300.5
1
2175-480
80-1600
40-310023
46
7110
8
50.5-34
1-34
2-30類型1 B1S
B2S
B4S
B5S24
24
24
241
2
4
570-1200
23-3000
15-3000
15-600023
45
88
1106
5
3
31-24
2-24
4-24
5-24提供連接器頂端類型B.S-O 類型2 MB2S
MB4S
MB5S10
10
102
4
530-800
15-1500
10-20008
16
204
3
32-10
4-10
5-10提供連接器頂端類型MBS-O 類型3 特性帶寬：60% K0.5S
K1S
K0.5SM
K1SM34
34
28
280.5
1
0.5
1100-250
50-1350
80-145
40-78023
46
15
3110
6
8
60.5-34
1-34
0.5-28
1-28具有強聲波衰減的材料試的粗粒探頭 類型1
類型1
類型2
類型2合成單元，特性帶寬：80% K1SC
K2SC
MK1S
MK2S
MK4S24
24
10
10
101
2
1
2
435-1200
18-3000
30-350
15-700
10-130023
45
4
8
166
3
6
3
21-24
2-24
1-10
2-10
4-10粗粒探頭 特別適合于拉鏈技術(shù)中塑料的測試 類型2
類型3附件描述 類型 備注 保護膜
（1組=10片）
延遲線或延遲楔
探頭電纜（2米）耦合劑
DGS標尺ES57
ES45
ES24
承索
PKLL2
MPKL2
ZG-F用于B..SL;K..S
用于B..S;K..SM;K..SC
用于MB..S;MK..S
如用于高溫下的測試
用于B..和K..
用于MB..S；MK..S
見36頁
見35頁
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