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美國(guó)GE探傷儀直探頭B4S
詳細(xì)信息品牌：美國(guó)GE 型號(hào)：B4S 加工定制：否 用途：適合于壁厚測(cè)量 是否進(jìn)口：是 加工定制：否 B4S探傷儀直探頭美國(guó)GE
美國(guó)GE探傷直探頭 B..SL： 用于測(cè)試這樣一類中等尺寸和大尺寸物體，它們由于具有長(zhǎng)的聲程（例如大的鍛件或球墨鑄鐵）而會(huì)導(dǎo)致大的聲波衰減。它們也適合用于測(cè)試具有強(qiáng)的聲波吸收特性的塑料（例如尼龍、特氟龍、聚丙烯），為增加靈敏度和分辨率，可以將保護(hù)膜去掉。
特性：在粗糙表面上具有穩(wěn)定的耦合性
注釋：
粗體=首選探頭，帶簡(jiǎn)短 注釋說(shuō)明
O= 提供探頭數(shù)據(jù)表
O= 提供DGS標(biāo)尺
關(guān)于表中數(shù)據(jù)的解釋，見(jiàn)第4頁(yè)中選擇標(biāo)準(zhǔn)。
關(guān)于聲束形狀見(jiàn)第37頁(yè)中聲束形狀編號(hào)。
可按用戶需求提供其它衰減值（帶寬）、連接插座、頻率或單元尺寸的探頭。類型
[訂購(gòu)號(hào)碼]D[mm] [mm] f [MHz] AB N [mm] EB [mm] 聲束形狀
編號(hào)備注 草圖 特性帶寬：25% B0.5SL
B1SL
B2SL34
34
300.5
1
2175-480
80-1600
40-310023
46
7110
8
50.5-34
1-34
2-30類型1 B1S
B2S
B4S
B5S24
24
24
241
2
4
570-1200
23-3000
15-3000
15-600023
45
88
1106
5
3
31-24
2-24
4-24
5-24提供連接器頂端類型B.S-O 類型2 MB2S
MB4S
MB5S10
10
102
4
530-800
15-1500
10-20008
16
204
3
32-10
4-10
5-10提供連接器頂端類型MBS-O 類型3 特性帶寬：60% K0.5S
K1S
K0.5SM
K1SM34
34
28
280.5
1
0.5
1100-250
50-1350
80-145
40-78023
46
15
3110
6
8
60.5-34
1-34
0.5-28
1-28具有強(qiáng)聲波衰減的材料試的粗粒探頭 類型1
類型1
類型2
類型2合成單元，特性帶寬：80% K1SC
K2SC
MK1S
MK2S
MK4S24
24
10
10
101
2
1
2
435-1200
18-3000
30-350
15-700
10-130023
45
4
8
166
3
6
3
21-24
2-24
1-10
2-10
4-10粗粒探頭 特別適合于拉鏈技術(shù)中塑料的測(cè)試 類型2
類型3附件描述 類型 備注 保護(hù)膜
（1組=10片）
延遲線或延遲楔
探頭電纜（2米）耦合劑
DGS標(biāo)尺ES57
ES45
ES24
承索
PKLL2
MPKL2
ZG-F用于B..SL;K..S
用于B..S;K..SM;K..SC
用于MB..S;MK..S
如用于高溫下的測(cè)試
用于B..和K..
用于MB..S；MK..S
見(jiàn)36頁(yè)
見(jiàn)35頁(yè) -
留 言
- 聯(lián)系人：牟淑蓉
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http://m.d7setw.cn
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無(wú)損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺(jué)質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
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- 光譜儀
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- 工業(yè)相機(jī)
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- 鈍化膜測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
- 相控陣探傷儀
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- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
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計(jì)量測(cè)試儀
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環(huán)境暖通測(cè)試
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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